Wahlpflichtbereich

ModuleTitleLV TypeCPLVDatesExamination
Beugungs- und StreumethodenEinführung in die Röntgen-, Neutronen- und ElektronenbeugungFach-/Modulprüfung4378295
Material Analysis by Synchrotron Radiation and NeutronsFach-/Modulprüfung5362350
Material analysis by synchrotron radiation and neutronsVorlesung281664Mo 14:15-15:45 28A 301 (4281|301) (×12)
Material analysis by synchrotron radiation and neutrons (Tutorial)Übung281888Mo 15:45-16:45 28A 301 (4281|301) (×11)
EinkristallmethodenStructure Analysis of Complex Mineral and Material PhasesFach-/Modulprüfung3369878
X-ray CourseFach-/Modulprüfung4369871
Structure Analysis of Complex Mineral and Material PhasesVorlesung/Übung281123Mi 13:15-16:15 IFK 310, Jägerstr. 17-19 (6010|310) (×13)
From Physics Principles to the ProductFrom Physics Principles to the ProductFach-/Modulprüfung2361833
From Physics Principles to the ProductFach-/Modulprüfung2312266
From Physics Principles to the ProductVorlesung/Übung279378Do 14:15-15:45 MBP2 016 (4273|016) (×12)
KristallzüchtungFundamentals and Methods of Crystal GrowthFach-/Modulprüfung8369875
Methods of Crystal GrowthÜbung280557Mi 08:30-09:30 IFK 310, Jägerstr. 17-19 (6010|310) (×13)
Mi 09:00-12:00 Extern (×4)
Mi 13:00-16:00 Extern (×4)
Fr 09:00-12:00 Extern (×4)
Fundamentals of Crystal GrowthVorlesung282439Mo 10:30-12:00 IFK 310, Jägerstr. 17-19 (6010|310) (×13)
Nano-Optics IINano-Optics IIFach-/Modulprüfung5361565
Nano-optics IIVorlesung/Übung282514Di 16:00-17:30 MBP1 015 (4272|015) (×12)
Di 17:45-18:30 MBP1 015 (4272|015) (×10)
Di 17:45-18:30 MBP2 015 (4273|015) (×1)
Scanning Probe MicroscopyScanning Probe MicroscopyFach-/Modulprüfung5312282
Rastersondenmikroskopie (Ergänzungen für Materialwissenschaftler)Vorlesung281772Mo 18:30-20:00 28B 110 (4282|110) (×13)
Scanning Probe MicroscopyVorlesung/Übung282576Mo 12:30-14:00 28B 110 (4282|110) (×13)