Module | LV Type | CP | LV | Dates | Examination |
---|---|---|---|---|---|
Compound Semiconductors: Electronic, Photonic and Application | Fach-/Modulprüfung | 5 | 374213 | ||
Vorlesung | 280274 | Mo 08:30-10:00 WSH S1 (4243|104) (×13) | |||
Übung | 281462 | Mo 10:15-11:00 WSH S1 (4243|104) (×13) | |||
Compound Semiconductors: Physics, Technology and Application | Fach-/Modulprüfung | 5 | 375722 | ||
Einsatz oxidischer Dünnschichten in der Informationstechnik: Materialien und Eigenschaften | Fach-/Modulprüfung | 5 | 368373 | ||
Fundamentals of Organic Electronics and Optoelectronics - Technology and Applications | Fach-/Modulprüfung | 5 | 374174 | ||
GaN: Material, Technology and Devices | Fach-/Modulprüfung | 5 | 353095 | ||
Vorlesung/Übung | 282102 | Di 11:15-13:30 WSH S2 (4243|102) (×13) Di 13:30-14:15 WSH S2 (4243|102) (×12) | |||
Herstellungsprozesse für siliziumbasierte Mikrosysteme | Fach-/Modulprüfung | 5 | 351433 | ||
Vorlesung | 281352 | Mo 14:30-16:00 WSH S1 (4243|104) (×12) | |||
Übung | 281314 | Mo 16:15-17:00 WSH S1 (4243|104) (×13) | |||
III-V-Halbleiter 2 | Vorlesung | 280274 | Mo 08:30-10:00 WSH S1 (4243|104) (×13) | ||
Übung | 281462 | Mo 10:15-11:00 WSH S1 (4243|104) (×13) | |||
Oxidische Dünnschichten für die Informationstechnik: Herstellungs- und Charakterisierungsverfahren | Fach-/Modulprüfung | 5 | 368372 | ||
Übung | 282111 | ||||
Vorlesung | 282732 | Do 14:00-15:30 Extern (×13) | |||
Photovoltaik | Vorlesung/Übung | 280711 | Mi 16:30-18:00 WSH S2 (4243|102) (×13) Mi 18:30-20:00 WSH S2 (4243|102) (×13) | ||
Sensoren | Fach-/Modulprüfung | 5 | 351434 | ||
Übung | 280537 | Fr 15:15-16:00 WSH S1 (4243|104) (×13) | |||
Vorlesung | 280355 | Mo 09:00-13:00 WSH S1 (4243|104) (×1) Di 09:00-13:00 WSH S1 (4243|104) (×1) Do 09:00-13:00 WSH S1 (4243|104) (×1) Do 13:00-15:00 WSH S1 (4243|104) (×1) Fr 09:00-13:00 WSH S1 (4243|104) (×1) Fr 13:30-15:00 WSH S1 (4243|104) (×13) |