Wahlpflichtbereich

ModuleTitleLV TypeCPLVDatesExamination
Beugungs- und StreumethodenEinführung in die Röntgen-, Neutronen- und ElektronenbeugungFach-/Modulprüfung4385148
Material Analysis by Synchrotron Radiation and NeutronsFach-/Modulprüfung5385315
Material analysis by synchrotron radiation and neutronsVorlesung382701Mo 14:15-15:45 28A 301 (4281|301) (×12)
Material analysis by synchrotron radiation and neutrons (Tutorial)Übung382837Mo 15:45-16:45 28A 301 (4281|301) (×11)
EinkristallmethodenStructure Analysis of Complex Mineral and Material PhasesFach-/Modulprüfung3387245
Röntgenkurs I: Beugungsmethoden (PO 15) / X-ray Course I (PO 19) (Corona-bedingt verschobener Kurs aus dem Wintersemester 2019/20)Praktikum412402
X-ray CourseFach-/Modulprüfung4386204
Structure Analysis of Complex Mineral and Material PhasesVorlesung/Übung382383Mi 13:15-16:15 Online-Veranstaltung (×11)
From Physics Principles to the ProductFrom Physics Principles to the ProductFach-/Modulprüfung2385344
From Physics Principles to the ProductFach-/Modulprüfung2385343
From Physics Principles to the ProductVorlesung/Übung381377Do 14:30-16:00 MBP2 016 (4273|016) (×11)
Do 14:30-16:30 MBP2 016 (4273|016) (×1)
KristallzüchtungFundamentals and Methods of Crystal GrowthFach-/Modulprüfung8385236
Methods of Crystal GrowthÜbung382054Mi 08:15-11:15 IFK 310, Jägerstr. 17-19 (6010|310) (×14)
Fundamentals of Crystal GrowthVorlesung383206Di 16:30-18:00 Online-Veranstaltung (×12)
Nano-Optics IINano-Optics IIFach-/Modulprüfung5385418
Nano-optics IIVorlesung/Übung383253Mo 09:00-12:00 MBP2 117 (4273|117) (×1)
Di 09:00-17:00 MBP2 117 (4273|117) (×1)
Di 14:30-16:00 28B 110 (4282|110) (×14)
Di 16:00-17:30 MBP1 015 (4272|015) (×11)
Fr 09:00-17:00 MBP2 117 (4273|117) (×1)
Scanning Probe MicroscopyScanning Probe MicroscopyFach-/Modulprüfung5385156
Rastersondenmikroskopie (Ergänzungen für Materialwissenschaftler)Vorlesung382772Mo 18:30-20:00 28B 110 (4282|110) (×12)
Scanning Probe MicroscopyVorlesung/Übung383288Mo 12:30-14:00 28B 110 (4282|110) (×12)