Wahlpflichtbereich

ModuleTitleLV TypeCPLVDatesExamination
Beugungs- und StreumethodenX-ray and Neutron Scattering in Material Research / Einführung in die Röntgen-, Neutronen- und ElektronenbeugungFach-/Modulprüfung4476296
Material Analysis by Synchrotron Radiation and NeutronsFach-/Modulprüfung5477203
Material analysis by synchrotron radiation and neutronsVorlesung470943Mo 14:15-15:45 28A 301 (4281|301) (×11)
Material analysis by synchrotron radiation and neutrons (Tutorial)Übung473889Mo 15:45-16:45 28A 301 (4281|301) (×10)
EinkristallmethodenStructure Analysis of Complex Mineral and Material PhasesFach-/Modulprüfung3477126
Laboratory Course X-ray ScatteringFach-/Modulprüfung4476193
Structure Analysis of Complex Mineral and Material PhasesVorlesung/Übung473284Mi 12:15-15:15 IFK 310, Jägerstr. 17-19 (6010|310) (×13)
From Physics Principles to the ProductFrom Physics Principles to the ProductFach-/Modulprüfung2475878
From Physics Principles to the ProductFach-/Modulprüfung2477394
From Physics Principles to the ProductVorlesung/Übung483600Do 14:30-16:00 MBP1 015 (4272|015) (×1)
Do 14:30-16:00 MBP2 016 (4273|016) (×11)
KristallzüchtungFundamentals and Methods of Crystal GrowthFach-/Modulprüfung8476194
Methods of Crystal GrowthÜbung472142Do 08:15-11:15 IFK 310, Jägerstr. 17-19 (6010|310) (×12)
Fundamentals of Crystal GrowthVorlesung473646Mi 08:30-10:00 IFK 310, Jägerstr. 17-19 (6010|310) (×14)
Nano-Optics IINano-Optics IIFach-/Modulprüfung5478613
Nano-optics IIVorlesung/Übung471835Di 13:30-14:30 MBP1 015 (4272|015) (×12)
Di 14:30-16:00 28B 110 (4282|110) (×14)
Di 16:30-17:00 MBP2 117 (4273|117) (×1)
Scanning Probe MicroscopyScanning Probe MicroscopyFach-/Modulprüfung5478878
Rastersondenmikroskopie (Ergänzungen für Materialwissenschaftler)Vorlesung471803
Scanning Probe MicroscopyVorlesung/Übung474050Mo 12:30-14:00 28B 110 (4282|110) (×12)