Wahlpflichtbereich

ModuleTitleLV TypeCPLVDatesExamination
Beugungs- und StreumethodenX-ray and Neutron Scattering in Material Research / Einführung in die Röntgen-, Neutronen- und ElektronenbeugungFach-/Modulprüfung4501748
Material Analysis by Synchrotron Radiation and NeutronsFach-/Modulprüfung5502087
Material analysis by synchrotron radiation and neutronsVorlesung498618Mo 14:15-15:45 28A 301 (4281|301) (×13)
Material analysis by synchrotron radiation and neutrons (Tutorial)Übung498717Mo 15:45-16:45 28A 301 (4281|301) (×12)
EinkristallmethodenStructure Analysis of Complex Mineral and Material PhasesFach-/Modulprüfung3505546
Laboratory Course X-ray ScatteringFach-/Modulprüfung4504393
Structure Analysis of Complex Mineral and Material PhasesVorlesung/Übung498359Mi 12:15-15:15 IFK 310, Jägerstr. 17-19 (6010|310) (×13)
From Physics Principles to the ProductFrom Physics Principles to the ProductFach-/Modulprüfung2502137
From Physics Principles to the ProductFach-/Modulprüfung2502138
From Physics Principles to the ProductVorlesung/Übung497636Do 14:30-16:00 MBP2 016 (4273|016) (×11)
KristallzüchtungFundamentals and Methods of Crystal GrowthFach-/Modulprüfung8501880
Methods of Crystal GrowthÜbung498129Do 08:15-11:15 IFK 310, Jägerstr. 17-19 (6010|310) (×12)
Fundamentals of Crystal GrowthVorlesung498978Mo 08:30-10:00 IFK 310, Jägerstr. 17-19 (6010|310) (×14)
Nano-Optics IINano-Optics IIFach-/Modulprüfung5502488
Nano-optics IIVorlesung/Übung499005Di 13:30-14:30 MBP1 015 (4272|015) (×11)
Di 14:30-16:00 28B 110 (4282|110) (×13)
Di 16:00-17:00 28B 110 (4282|110) (×1)
Scanning Probe MicroscopyScanning Probe MicroscopyFach-/Modulprüfung5501762
Rastersondenmikroskopie (Ergänzungen für Materialwissenschaftler)Vorlesung498673
Scanning Probe MicroscopyVorlesung/Übung499031Mo 12:30-14:00 28B 110 (4282|110) (×14)